X射线荧光光谱分析的基本原理

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合作站点
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高灵敏度
通过改善后的φ1mm准直器,将测量微小部分的灵敏度提高到原先的4倍。
而测量时间则缩短了3/4。
无需液氮
配有无需液氮的检测器,提高了其操作性和保养性。
无需补给液氮,即使是在海外工厂也能轻松实现测量。
高分辨率
实现了Cd等的检出下限为几个ppm(不含Br等共同元素的样品)。
采用了DSP,测量时间比原来的缩短了1/2。
大型样品室
笔记本电脑也可以轻松放入的大型样品室。
370(W)×320(D)×155(H)mm
采用了大检测器,使其与样品之间的距离为最短,更有效的检测X射线。
能够超越Si(Li)检测器的灵敏度。
能对应RoHS指令指定的微量Cd, Pb, Hg, Br, Cr元素的测量。
修正功能
可以对塑料的形状、厚度以及面积的误差进行补正。
可搭载最大12个样品连续自动测量的进样装置。(选配件)
配备了手动操作台,可进行微小位置调整。
配备了有害金属数据管理功能,可对样品的详细数据和测量结果进行对比。
搭载了Microsoft Excel和 Word,能够轻松制作报告书。
SEA1000AⅡ产品规格
可测量元素 ; 原子序数13(Al)~92(U)
样品形态 ; 固体、粉末、液体
检测器 ; Si半导体检测器(无需液氮)
分析范围 ; Φ1mm、Φ5mm(自动切换)
样品观察 ; 彩色CCD摄像头
滤波器 ; 4种模式自动切换
样品室 ; 370(W) ×320(D) ×155(H)mm
重量 ; 90kg(不含电脑)
定性分析功能 ; 能谱测量、自动辨别、比较表示
定量分析功能 ; 块体FP法、检量线法、KLM标示表示、差异表示
统计处理功能 ; MS-EXCEL
报告制作 ; MS-WORD
安装环境 ; 温度:10℃~35℃(±)5℃ 湿度:35%~80%
电源 ; AC100~120V、200~240V±10%、5A

X射线荧光光谱分析的基本原理

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    X射线荧光光谱分析的基本原理:  当某些物质受到外来的具有适当能量的X射线辐照时,X射线的能量会使K壳层电子激发生成光电子,而原子处于激发状态,它将从能量较高的状态跃迁到能量较低的状态,L壳层电子会落入K壳层空穴,此时就有能量 释放出来,如果这种能量以辐射的形式释放,产生的即是Ka射线,由于是X射线引起的二次辐射,故称为荧光X射线。如果L壳层电子跃迁到K壳层,将其能量直接给外层电子,使其跑出来,这就是俄歇电子。荧古陶瓷EDXRF分析及数据研究系列光X射线的激发过程与运动电子激发特征X射线的过程极其相似,无论是X光量子还是电子都必须具有足够的能量才能在碰撞过程中使原子激发出特征X射线。为激发荧光X射线,入射X射线的能量必须高于内层电子的结合能,即入射X射线的波长要小于待测元素的吸收限波长。莫塞莱发现,荧光X射线的波长与元素的原子序数有关,随着元素的原子序数的增加,荧光X射线的波长变短,这就是莫塞莱定律,即
                              
    这里,K和S为常数。因此只要能测出荧光x射线的波长,就可以确定元素,根据谱线强度可以计算出元素的含量,这就是x荧光分析的基本原理

责任编辑: 整理时间:2009-11-16 14:51:08
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